| Название | Снятие спектральной характеристики и определение ширины запретной зоны фоторезистора |
| Количество страниц | 4 |
| ВУЗ | Севастопольский национальный технический университет |
| Год сдачи | 2009 |
| Содержание | Цель работы:
Общее ознакомление с методикой исследования фотоэлектрических свойств полупроводников, измерение спектральной зависимости фотопроводимости и определение ширины запретной зоны полупроводника. Приборы и принадлежности: 1. источник излучения; 2. монохроматор; 3. фоторезистор; 4. омметр (ламповый вольтметр). |
| Список литературы | |
| Цена: | Договорная |