| Название | Определение параметров кристаллической решетки и плотности вещества с помощью изучения дифракции рентгеновских лучей в поликристаллах |
| Количество страниц | 5 |
| ВУЗ | Севастопольский национальный технический университет |
| Год сдачи | 2009 |
| Содержание | Цель работы
Изучение элементов кристаллографии. Определение типа кристаллической решетки по дибилограмме поликристаллического образца. Изучение работы рентгеновских аппаратов УРС-60 и УРС-50ИМ. Определение межплоскостных расстояний и плотности поликристаллического образца кубической структуры. Экспериментальные данные. Обработка результатов Вывод |
| Список литературы | |
| Цена: | Договорная |